Лазерные атомно-эмиссионные спектрометры

Для заказа оборудования заполните, пожалуйста, прилагаемую форму
и вышлите ее на адрес: spectro-systems@mail.ru

Спектрометры серии СПЕКС ЛАЭС, где для возбуждения спектров плазмы используется лазер с модуляцией добротности, предоставляют возможность исследования: металлов и сплавов, поверхностных пленок и покрытий, нетокопроводящих материалов (керамики, полимеров, стекол, почв, минералов, волокон). Также реализована возможность микроанализа участков поверхности образца.

Спектрометр может быть использован для анализа следующих типов материалов:

• различных типов сталей и чугунов,
• сплавов на основе алюминия, никеля, меди, титана и др.,
• токопроводящих и нетокопроводящих материалов (пластмассы, керамики, стекла, и др.), горных пород и минералов,
• возможна разработка методических программ для анализа любых других материалов с привлечением специалистов ведущих ВУЗов страны.

В настоящее время ЗАО “Спектроскопические системы” производит атомно-эмиссионные спектрометры СПЕКС ЛАЭС следующих модификаций:

МПро: оптическая схема Черни-Тернера, монохроматор с четырьмя дифракционными решётками и ПЗС детектором фирмы Toshiba, диапазон длин волн от 190 до 800нм, перестраиваемый;

Матрикс: оптическая схема Пашена-Рунге с длиной оптического пути 250мм, с дифракционной решёткой 2400штр/мм и 5 ПЗС детекторами фирмы Toshiba, диапазон длин волн от 190 до 420нм;

Матрикс Про: двойная оптическая схема Пашена-Рунге с длиной оптического пути 250мм и 125мм, с дифракционными решётками 2400штр/мм и 1200штр/мм и 6 ПЗС детекторами фирмы Toshiba, диапазон длин волн от 190 до 420нм и 520-720нм;

Матрикс Континуум: двойная оптическая схема Пашена-Рунге с длиной оптического пути 250мм и 125мм, с дифракционными решётками 2400штр/мм и 1200штр/мм и 7 ПЗС детекторами фирмы Toshiba, диапазон длин волн от 190 до 800нм;

Матрикс Континуум УФ: двойная оптическая схема Пашена-Рунге с длиной оптического пути 500мм, с дифракционными решётками 2400 и 3600 штр/мм и 12 ПЗС детекторами фирмы Toshiba.

Модификации производства до 2011 года:

• Лазер LAES MEASURER
• Лазер LAES MEASURER PRO

Пределы обнаружения некоторых элементов, получаемые с помощью лазерного эмиссионного спектрометра ЛАЭС.

_{* Точность определения и пределы обнаружения зависят от типа материала и выбранных параметров анализа.}

Приборы серии ЛАЭС позволяют проводить элементный анализ в различных газовых средах и в вакууме. Трехкоординатный предметный столик и оригинальное ПО позволяют оператору автоматически перемещать образец и сканировать поверхность с точностью 1 мкм. Встроенные обзорная камера и микроскоп существенно упрощают процедуру выбора участков для элементного анализа. Использование для управления спектрометрами сетевого протокола TCP/IP, а также разграничение прав доступа обеспечивают не только возможность удаленной работы с прибором, но и высокую степень защиты, что особенно актуально для предприятий и лабораторных практикумов высших учебных заведений.

Рабочая среда: воздух, либо инертный газ с автоматически контролируемой подачей; максимально возможный размер исследуемого образца: с многопозиционным поворотным столиком: 50x50 мм, с единичным держателем: 120х100 мм; реализована возможность перемещения образца по трем направлениям с шагом не более 1 мкм (для усреднения результатов измерений); автоматическая фокусировка при послойном анализе.

Основные индикаторы состояния прибора вынесены на лицевую панель. На ней также находятся клавиши управления и аварийного выключения.

В приборах серии ЛАЭС в качестве источника возбуждения используется двухимпульсный твердотельный лазер с модуляцией добротности. Это существенно повышает эффективность работы, снижает пределы обнаружения элементов, позволяет возбуждать элементы с высокой энергией ионизации. В виду регистрации спектра после возбуждения газового атомно-ионного облака вторым импульсом обеспечивается более высокое по сравнению с одноимпульсным режимом работы, соотношение сигнал/шум, что, в конечном итоге, сказывается на чувствительности прибора, точности измерений, сходимости их результатов.

• тип источника: твердотельный YAG: Nd3+ - лазер;
• длина волны генерируемого излучения: 1.064 мкм;
• частота повторения импульсов: 1-10 Гц;
• энергия импульса излучения: не менее 100 мДж/импульс;
• длительность импульса по уровню 0.5: не более 15 нс;
• одуляция добротности, нестабильность энергии импульсов: не более +/-3% из 99% импульсов);
• диаметр пучка излучения после преобразования: 40-120мкм;
• электрическая энергия импульса накачки: не более 35 Дж;

Диаметр кратера и глубина поражения поверхности образца лазерным пучком варьируется изменением энергии пучка и регулируется программно; эффективный размер сфокусированного лазерного пучка варьируется и составляет от 20 мкм.

Система регистрации спектров реализована на монохроматоре-спектрографе с 4-х позиционной турелью сменных дифракционных решеток и ПЗС-детектором фирмы (Toshiba), либо на нескольких полихроматорах Пашена-Рунге с пятью ПЗС-линейными детекторами (Toshiba) со следующими характеристиками:

• диапазон длин волн: 177- 800 нм;
• воспроизводимость: ± 0.01 нм;
• спектральное разрешение: < 0.012 нм;
• точность установки длины волны: ± 0.01 нм;
• средний шаг сканирования: 0.012 нм;
• количество пикселов: 3648 на линейку;
• размер пиксела: 8x200 мкм2;
• длина светочувствительной зоны: 29.1 мм;
• чувствительность в макс.: 160 В/лх
• разрядность АЦП: 12
• среднеквадратичный шум чтения: <3.5;
• скорость чтения данных: 500 КГц (макс);
• время чтения кадра: 7.4 мс (мин.);
• основные зеркала: сферические;
• обратная линейная дисперсия: от 0.7 нм/мм.

Управляя работой спектрометра, получением изображения поверхности на экране монитора, математической обработкой и отображением результатов анализа, программное обеспечение реализует: 

• постоянный контроль за состоянием прибора и работой лазера;
• измерение концентраций элементов по нескольким аналитическим линиям в автоматическом режиме;
• возможность проведения анализа по площади и по интенсивности спектральных линий, их соотношению;
• управление работой подвижек, газовых клапанов и автосэмплера;
• выбор оптимальных аналитических линий из встроенной базы данных с возможностью дополнения ее пользователем;
• автоматическую калибровку и рекалибровку по имеющимся стандартным образцам;
экспорт результатов анализа и составления отчета.

Приборы серии ЛАЭС запатентованы и внесены в Государственный реестр средств измерений РФ. Сертификат № 31928-06 от 27.06.2006

Принципиальные отличия спектрометров ЛАЭС от других атомно-эмиссионных анализаторов:

• Возбуждение плазмы - двухимпульсным наносекундным лазером;
• Держатель для образцов любой формы и габаритов;
• Герметичная камера с возможностью вакуумирования и автоматического заполнения инертным газом;
• Наблюдение на мониторе, в т.ч. с увеличением, выбранного участка анализируемого образца;
• Анализ химического состава любых материалов (токопроводящих и непроводящих) без предварительной пробоподготовки;
• Отсутствие расходных материалов;
• Програмное обеспечение, автоматизирующее выполнение анализа;
• Приборы могут быть дополнены различными опциями.

Уважаемые клиенты!
Запрашивайте коммерческие предложения и дополнительную информацию
по телефонам: +7 (495) 926-38-48
а также e-mail: spectro-systems@mail.ru, alexeibaranov@rambler.ru.